![](/_mediafile/xclyny/2016/05/23/D5B2462AB80542F2CBC147652D2B05FD.jpg)
X-射线衍射仪是利用X射线衍射原理,即当X射线从不同的角度从晶体物质内部经过时,X射线经原子的作用其光路方向会有规律的发生改变,应用检测设备可以得到发生偏转后的X射线方向和强度,从而反映出晶体的内部结构信息(晶体的化学组成、晶格类型与结构、晶面指数及相对强度、织构及应力、物相成分等)。
X射线粉末衍射仪主要用于材料结构相关的多方面分析:多晶材料(金属、陶瓷、矿物及人工制备结晶材料)、多晶薄膜、单晶薄膜及各种无机、有机复合材料及非晶态物质。并能够精确测定物质的晶体微观结构,织构及应力,精确的进行物相检索与分析,定性、定量分析、应用谢乐方程分析晶粒大小和晶体生长层数(n值)等。
Powder X-Ray Diffractometer
仪器型号:D8 ADVANCE
仪器缩写:XRD
生产厂家:德国Bruker公司
适用领域
1)粉末样品物相分析
2)药物XRD指纹谱,晶型分析
3)金属表面物相分析
4)水泥、矿石、宝石类结晶相物相分析
5)结晶度分析
6)样品的对照分析
面向学科
化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域
样品要求
1) 粉末样品要求:干燥、在空气中稳定,粒度均匀,粒径小于20μm,粉末样品量约需30mg以上
2) 块状样品要求:测试面清洁平整,也可板状、片状或丝状,带基材的镀层等原始形状,厚度≤1cm,直径≤3cm。
3) 特殊样品:极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小,且物质性质稳定,对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。如样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质,请告知